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    X射線鍍層測厚儀

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    X射線鍍層測厚儀 
    使用X熒光射線可以非接觸非破壞快速分析膜厚
    * 兼容Microsoft Windows操作系統之軟件
    * 可測單層, 多層 1-6層, 合金厚度及比例
    * 藥水分析功能.
    * 擁有多種 Filter 選擇性
    * 定點自動定位分析
    * 光徑對準全自動化
    * 自動顯示量測參數
    * 2D/3D, 任意位置量測控制
    * 雷射對焦與自動定位系統
    * 溫控穩定延長校準時效
    * 20X 倍放大攝影系統.
    * X-ray運作待命睡眠控制                                       
    * 全進口美日系零件價格優勢以及快速服務時效
    * 彩色區別量測數據,多重統計顯示窗口與報告編輯應用

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